Le configurazioni da tavolo seguenti del microscopio della generazione TM3000 sul successo del relativo predecessore, sul TM-1000 e sulle offerte hanno migliorato significativamente la prestazione, compreso ingrandimento fino a 30,000x ed a migliore risoluzione, in un'unità che occupa 20% meno spazio ed ha un disegno economizzatore d'energia. Il nuovo TM3000 è un microscopio elettronico a scansione ...
Il nuovo HT7700 microscopio elettronico della trasmissione da 120 chilovolt è progettato per la ricerca e la R & S biomediche per i materiali farmaceutici e avanzati e la nanotecnologia. Il HT7700 rivoluzionario è ottimizzato per formazione immagine di alto contrasto alle dosi basse dell'elettrone ed è regolato per trasformare la vita molto più facile per i microscopisti con integrazione 100% ...
Il sistema di macinazione dello ione IM4000 può preparare gli esemplari per formazione immagine di SEM e le analisi quali EDX e EBS in un gran numero di campi differenti e le applicazioni quali i materiali, i semiconduttori, la ricerca ed il controllo di qualità. È capace degli entrambi macinazione dello ione della superficie piana e di sezione trasversale puntuale. La macinazione di sezione trasversale ...
The Dimension FastScan™ Atomic Force Microscope (AFM) delivers, for the first time, extreme imaging speed without loss of resolution, loss of force control, added complexity, or additional operating costs. Based upon the highly successful Dimension Icon® AFM architecture, the FastScan AFM is a tip-scanning system that provides measurements on both large and small size samples in air or fluids. Now, ...
N8 ARGOS
N8 ARGOSAFM/SPM il modo semplice
Il N8 ARGOS è un compatto e un basamento altamente rigido per il sistema di NANOS AFM/SPM. Dotato ultra di una fase verticale di precisione il AFM si avvicina a con esattezza di nanometro. Le procedure specializzate forniscono un metodo regolare e delicato della sonda. La punta accidentale al campione si mette in contatto con dentro non - i metodi ...
The BioScope™ Catalyst™ Atomic Force Microscope (AFM) with ScanAsyst™ provides uncompromised high-resolution optical imaging capability and thermally limited force measurements and features numerous hardware and software features that make it easier than ever to realize the unique benefits of combining atomic force microscopy and light microscopy. Bruker's exclusive Microscope Image Registration and ...
Microscopia correlativa
“ Spola & Find” è un'interfaccia correlativa per luce ed i microscopi elettronici e fornisce un senso diretto unire i vantaggi di microscopia chiara con le vaste funzionalità dei microscopi elettronici d'attacco di esame del bordo, per esempio la spettroscopia di raggi X dispersiva di energia.
Gli elementi chiave di questa interfaccia ...
Il toner di Axio unisce il disegno ottico per qualità senza precedenti di immagine nella microscopia del brightfield così come tutte le tecniche relative di contrasto, compreso il contrasto differenziale circolare di interferenza (C-DIC) che permette la formazione immagine delle strutture diversamente state allineate dell'oggetto con qualità insuperata di immagine. Il percorso riflesso del raggio ...
The JSM-7600F is a stateof- the-art thermal FE-SEM that successfully combines ultrahighresolution imaging with optimized analytical functionality. In addition, the JSM-7600F incorporates a large specimen chamber. This uniquely designed chamber, which accommodates a 200 mm diameter specimen, is optimized for a large variety of detectors for secondary electrons, backscattered electrons, EDS, WDS, EBSD, ...
Il JSM-6701F è un microscopio elettronico a scansione dell'emissione di campo (FESEM) che comprende una pistola fredda dell'emissione del giacimento del catodo, un vuoto ultra alto e lle tecnologie digitali rese sofisticato per formazione immagine di alta risoluzione di alta qualità di micro strutture. Caratterizzando una pistola conica del Fe e un obiettivo obiettivo dell'semi-in-obiettivo, il sistema ...
Il JSM-7500F è un'emissione di campo analitica SEM che caratterizza la prestazione aumentata, la facilità del funzionamento ed il rendimento energetico. Il JSM-7500F offre l'più alta risoluzione al chilovolt più basso di tutti i SEM disponibili, realizzante una risoluzione di 1.4 nanometro a 1 chilovolt. Il JSM-7500F fornisce la prestazione dell'in-obiettivo (1.0nm a 15kV) ma può trattare i campioni ...
MERLIN™
Potere analitico per il mondo di Secondario-Nanometro
- Analytics Nano
- Informazioni totali
- Facilità di uso
- Futuro assicurato
MERLIN™ - analisi ed alta risoluzione in uno
Il MERLIN FE-SEM sormonta il conflitto fra risoluzione di immagine e possibilità analitica. Il centro di MERLIN è la colonna aumentata dei GEMINI II che, con ...
AURIGA®
Informazioni oltre risoluzione
- Formazione immagine unica
- Analytics avanzato
- Elaborazione precisa
- Futuro assicurato
Funzionando con il vostro campione riguarda più appena la formazione immagine della superficie? Inoltre vorreste sapere circa la composizione chimica o la morfologia del vostro campione? Siete curiosità circa le caratteristiche approfondite ...
SIGMA - microscopia analitica avanzata - ora disponibile con tecnologia di VP
Il SIGMA, caratterizzante la tecnologia di GEMINI® fornisce la formazione immagine eccezionale ed i risultati analitici da un microscopio di emissione di campo.
Il SIGMA ora è disponibile con la tecnologia variabile (VP) di pressione per formazione immagine e l'analisi eccezionali dell'esemplare non-conductive. ...
Oggi, con il punto di più di 20 anni di esperienza, l'ottica di Bruker offre il infrared avanzato ed i microscopi del Raman. RamanScopeIII è basato su una generazione seguente, piattaforma "ibrida" che può accomodare le lunghezze d'onda multiple dell'eccitazione del Raman. Il nuovo sistema di RamanScopeIII può essere accoppiato al modulo completamente digitale multi-range del FT-Raman delle ottica ...
Microscopio dispersivo di SENTERRA Raman
Il SENTERRA è uno spettrometro del microscopio del Raman di rendimento elevato progettato
per le applicazioni di ricerca ed analitiche più esigenti. La relativa innovazione più importante è certamente la relativa calibratura continua interna poichè assicura l'più alta esattezza del wavenumber senza l'esigenza delle calibrature con i ...
The Panasonic UA3P profilometer series is designed to measure aspherical lenses & molds, semiconductor wafers, and any other precision component requiring nanometer level accuracy ranging up to 200mm x 200mm. Different machine models are available to meet your optical & high aspect ratio metrology needs.
The UA3P-300, UA3P-4 and UA3P-5 all offer users the accuracy of AFM technology ...
Profilometro di Panasonic UA3P-L
Il UA3P-L recentemente introdotto misura le superfici verticali della parete degli oggetti e la superficie interna dei fori del micron-livello. Le applicazioni che richiedono l'alta metrologia di allungamento (DANNO), quali gli orifizi dell'iniettore di combustibile, micro-hanno graduato gli ingranaggi secondo la misura ed i modelli della caratteristica a ...
Benchtop SEM di NeoScope
Il benchtop SEM di NeoScope complementa economicamente sia i microscopi ottici che SEMs tradizionale. Il NeoScope lo rende facile ottenere le alte immagini di ingrandimento con profondità del campo di alta risoluzione e grande per mezzo di un microscopio che è semplice funzionare come macchina fotografica digitale, ma ha l'ottica di elettrone potente dell'SEM.
Se usato ...
Navitar è un fornitore principale di micro ed attrezzi fluorescenti a macroistruzione di formazione immagine progettati per rilevazione e l'osservazione di microscopia di fluorescenza. Navitar’ gli attrezzi ottici completi di s trasportano i particolari fini degli organi, tessuti e vivono cellule con luminosità, risoluzione e precisione senza precedenti.
I nostri sistemi di formazione ...
Microscopio di DXR Raman
Il termo microscopio scientifico di DXR Raman fornisce la microscopia del Raman del tiro e del punto la sensibilità eccezionale e la risoluzione spaziale per le applicazioni di funzionamento.
Il termo microscopio scientifico di DXR Raman completamente ridefinisce il microscopio del Raman in modo che risponda alle esigenze dei laboratori occupati. Senza sacrificare ...
X-RayMicroanalysis: Alto rendimento, esattezza impeccabile e nessun compromessi
Caratterizzando i sistemi ad alta definizione dei rivelatori dei raggi X di EDS e di microanalisi a raggi x ha progettato per alto-rendimento, facilità di uso e le risposte complete, così come i sistemi di EBSD e di WDS, termo offerte scientifiche del Fisher completano le soluzioni per l'analisi chimica nella ...
Posizionatore/dispositivo d'esplorazione High-Precision per gli obiettivi del microscopio
P-725.2CL con opzione P-721.12Q di QuickLock per W0.8 x 1/36 " filetti ed obiettivo (adattatore ed obiettivo di QuickLock non inclusi)
Gamme di corsa a µm 460
Risposta significativamente più veloce e più alto corso della vita di quanto le Z-Fasi motorizzate
Esplorazioni ed obiettivi ...
Acquistabile, Ricerca-Grado AFM con il trattamento flessibile del campione
Un'estensione economica del XE-100, il XE-70 è soluzione del AFM dei sistemi del parco nuova' per i clienti coscienti del preventivo. Avendo un disegno meccanico compatto, il XE-70 continua la tecnologia innovatrice delle XE-serie che insiemi esso oltre al AFM convenzionale. Il XE-70 riparte gli stessi modi, opzioni ...
Data accuracy is of paramount importance to nanotechnology researchers as the credibility of their research depends upon accurate results. The NX10, the world’s most accurate AFM, is the flagship AFM of Park Systems’ new product line. The NX10 brings unparalleled imaging accuracy, scan speeds, and tip life to the next generation of researchers, all at an affordable price. The NX10 is the world’s premium ...
Il XE-200 è un AFM con capienza aumentata che sostiene 200 millimetri di ricerca della cialda. Oltre che l'esplorazione precisa la prestazione ha fornito dal vero modo senza contatto, gli utenti di offerte XE-200 una fase DI X-Y messa che viaggia sopra gli interi 200 millimetri x 200 millimetri di zona del campione, una gamma DI X-Y ingrandetta di esplorazione di 200 μ m. x 200 μ ...
Con l'applicazione di ricostruzione di rugosità 3D, il Phenom può generare le immagini e le misure tridimensionali di rugosità di submicrometer.
Questa domanda completamente automatizzata di microscopio elettronico a scansione di Phenom contribuirà a comunicare i risultati di formazione immagine ed estrarrà e prevederà i dati nascosto normalmente all'interno di un campione.
3D
la ...
Migliore, analisi più veloce della fibra
Ora, osservazione diretta e misura del micro e
le fibre nano è più facilmente che mai più veloci, migliori e prima, con
applicazione migliore di Fibermetric.
Congiuntamente al Phenom™ Il pro microscopio elettronico a scansione da tavolino G2, l'applicazione di Fibermetric permette che redigiate le informazioni esatte di formato ...
Il Phenom G2 puro è un attrezzo ideale per fare la transizione dal funzionamento con un microscopio chiaro a funzionare un microscopio elettronico. Il Phenom G2 puro è dotato dei componenti di base per i bisogni di formazione immagine di riunione.
Il Phenom G2 puro fornisce le immagini di alta qualità mentre usando le caratteristiche di base ed offre il tempo di caricamento più veloce ...
Il XGT-7000 rappresenta una generazione completamente nuova di microscopio di XRF e conduce il senso ad una nuova era di scienza. Offre una fusione senza giunte fra l'osservazione ottica e le funzioni di analisi elementare, rivoluzionanti il mondo di microanalisi e dell'instaurazione micro-XRF come attrezzo sistematico per la ricerca e lo scienziato analitico.
Le caratteristiche di fissaggi ...
Con il tubo di guida unico dei raggi X i sistemi della parte superiore XGT-5000 del banco permettono l'accesso conveniente all'analisi di fluorescenza dei raggi X con alta risoluzione spaziale - da 1.2 millimetri giù a µm 10. Non ci è preparazione o vuoto del campione richiesto - l'oggetto è disposto semplicemente nell'alloggiamento del campione ed è analizzato a pressione atmosferica normale. Movimento ...
Il XploRA è un nuovo concetto nella microscopia del Raman, portante a Raman l'identificazione chimica direttamente al vostro microscopio. Il XploRA può essere accoppiato sia ai microscopi dritti che invertiti, permettendo l'analisi di tutti i tipi del campione, variando dai semiconduttori e dai nano-materiali, attraverso alle cellule ed ai tessuti biologici.
Il sistema fornisce la prestazione ...
