Sistemi di misurazione per wafer

... di manipolazione e misurazione dei wafer del sistema PWG5 per la geometria dei wafer modellati, per supportare le misurazioni dell'incollaggio da wafer ...

... sottili e modelli di substrato La combinazione di misurazioni 2D con un'immagine in campo chiaro con zoom 15x e di misurazioni 3D dell'altezza nello stesso campo visivo consente di effettuare diverse ...

... strati. La misurazione dell'errore di sovrapposizione è un processo di imaging che calcola la deviazione su due diversi segni di sovrapposizione, per lo più generati da processi diversi e composti da materiali diversi. Per ...

... di wafer vengono rilevate in modo rapido e globale. La misurazione senza contatto evita di danneggiare il wafer con la caratterizzazione magnetica tradizionale e può essere applicata ...

... Automatico-obiettivo di CNC Metrology del professionista soddisfa le varie misure di formati. Caratteristiche del sistema di misurazione di visione di CNC del Multi-sensor: 1. La base del supervisore ...

... per le misurazioni in direzione x, y e z su strati e strutture. Applicazioni: misurazione dell'altezza nel campo dei μm (spessore di strati e strutture, graffi) misurazione ...

... Il nuovo sistema avanzato di sonde Cascade SUMMIT200 da 200 mm è essenziale per raccogliere dati di misura di alta precisione su wafer singoli o in volume, nel modo più rapido possibile. Progettata per ...

... Y valore della barra di cristallo dopo la misura di orientamento, e può misurare con precisione il valore dell'angolo del wafer parziale. Struttura: Lo strumento di orientamento a cristallo del silicio YX-6D del singolo ...