Spettrometro di massa IMS 7f-Auto

di massa di ioni secondariper l'industria dei semiconduttoriPMT

Strumento versatile SIMS: Sensibilità di rilevamento di riferimento con elevata produttività e completa automazione L'IMS 7f-Auto è l'ultima versione della nostra linea di prodotti di successo IMS xf Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS). Progettato per fornire analisi elementari e isotopiche di alta precisione con maggiore facilità d'uso e produttività, è stato ottimizzato per applicazioni impegnative come vetro, metalli, ceramica, dispositivi basati su Si, III-V e II-VI, materiali sfusi, film sottili..... che soddisfano i requisiti industriali per lo sviluppo efficiente dei dispositivi e il controllo di processo. Principali caratteristiche analitiche per risolvere un'ampia gamma di problemi analitici L'IMS 7f-Auto offre capacità impareggiabili di profiling di profondità con un'alta risoluzione di profondità e un'elevata gamma dinamica. Lo spettrometro di massa ad alta trasmissione è combinato con due sorgenti ioniche reattive ad alta densità, O2+ e Cs+, fornendo così un'elevata velocità di sputter rate ed eccellenti limiti di rilevamento. L'esclusivo design ottico consente sia la microscopia a ioni diretti che l'imaging a microprovette a scansione Miglioramento dell'automazione e dell'efficienza operativa L'IMS 7f-Auto è dotato di una nuova colonna primaria in linea per una più facile e veloce regolazione del fascio primario e una stabilità ottimizzata della corrente del fascio primario. Le nuove routine automatizzate riducono al minimo i pregiudizi legati all'operatore e migliorano la facilità d'uso. Una camera di stoccaggio motorizzata con carico/scarico automatico dei portacampioni garantisce un'elevata produttività grazie alla concatenazione delle analisi e al funzionamento a distanza.