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Spettrometro a fluorescenza XDAL® series
EDXRFdi processo

spettrometro a fluorescenza
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Caratteristiche

Tipo
a fluorescenza, EDXRF
Settore
di processo

Descrizione

Dispositivo di misura a florescenza di raggi X con banco X/Y e asse Z programmabile per la misura automatizzata dello spessore di rivestimento e l'analisi dei materiali

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Coating Thickness

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