Strumento di misura dell'induttanza, capacitanza e impedenza
100 kHz - 120 MHz | 3535
HIOKI
Prova ad alta velocità degli induttori del circuito integrato e delle teste magnetiche in ricerca e sviluppo
Vasta gamma di misura di frequenza (100 chilocicli - 120 megahertz)
Prova ad alta velocità di LCR (6ms/sample)
14 tipi di parametro ( |Z|, |Y|, Θ , Rp, Rs (esr), G, X, B, Lp, Ls, Cp, Cs, D (δ tan;) e Q)
Testa staccabile ampère
Funzione della compensazione del carico
Misura dello SCOMPARTO (classificazione)
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