L'esclusivo TEM/STEM Hitachi con correzione delle aberrazioni a 200 kV: la perfetta armonia tra risoluzione delle immagini e prestazioni analitiche
0.la risoluzione spaziale di 078 nm in STEM è ottenuta insieme a un'elevata capacità di inclinazione del campione e a rivelatori EDX ad ampio angolo solido, il tutto in una configurazione a obiettivo singolo.
L'HF5000 si basa sulle caratteristiche dello STEM dedicato Hitachi HD-2700, tra cui il correttore di aberrazione completamente automatico, l'EDX simmetrico a doppio SDD e l'imaging SE con correzione Cs. Inoltre, incorpora le tecnologie avanzate TEM/STEM sviluppate nella serie HF.
L'integrazione di queste tecnologie accumulate in una nuova piattaforma TEM/STEM da 200 kV si traduce in uno strumento con una combinazione ottimale di imaging e analisi sub-Å, oltre alla flessibilità e alle capacità uniche per affrontare gli studi più avanzati.
※Con schermi monitor incorporati e opzione 2° monitor.
- Correttore di aberrazione sferica Hitachi a formazione di sonda completamente automatizzata
- Cannone elettronico FE freddo (Cold FEG) ad alta luminosità e alta stabilità
- Colonna e alimentatori ultra-stabili per migliorare le prestazioni dello strumento
- Capacità di imaging SEM e STEM con correzione Cs simultanea e risoluzione atomica
- Nuovo stadio per campioni a ingresso laterale e portacampioni ad alta stabilità
- Rivelatori EDX* doppi da 100 mm2 simmetricamente opposti: "Symmetrical Dual SDD*"
- Custodia di nuova concezione per prestazioni ottimali in ambienti di laboratorio reali
- Ampia gamma di portacampioni avanzati Hitachi*
FEG freddo ad alta luminosità×Alta stabilità×Correttore automatico dell'aberrazione Hitachi
Il nuovo Cold FEG ad alta stabilità utilizza una versione completamente ridisegnata della tecnologia Hitachi a emissione di campo freddo di lunga data.
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