Microsonda elettronica (EPMA) JXA-8530FPlus

JEOL ha commercializzato il primo FE-EPMA al mondo, il JXA-8500F, nel 2003. Questo apprezzato FE-EPMA è stato a lungo utilizzato in vari campi, quali: metalli, materiali e geologia sia nell'industria che nel mondo accademico. Il JXA-8530FPlus è un FE-EPMA di terza generazione dotato di capacità analitiche e di imaging migliorate. Il cannone elettronico a emissione di campo In-Lens Schottky, combinato con un nuovo software, garantisce una maggiore produttività mantenendo un'elevata stabilità, consentendo così di ottenere una gamma più ampia di applicazioni EPMA con una risoluzione più elevata. In-Lens Schottky Plus FEG versione EPMA La versione In-Lens Schottky Plus FEG EPMA, con una densità di corrente angolare ottimizzata, consente l'analisi con un'ampia corrente di sonda di 2μA o più. La risoluzione dell'immagine degli elettroni secondari è stata migliorata anche in condizioni analitiche, grazie alla regolazione automatica dell'angolo di convergenza corretto. Software avanzato Sono disponibili numerosi sistemi applicativi avanzati basati su Microsoft Windows®, tra cui: Programma di analisi degli elementi in traccia per un'analisi più semplice e ottimizzata degli elementi in traccia, compresa l'aggiunta di dati raccolti da un massimo di 5 spettrometri, Phase Map Maker per la creazione automatica di mappe di fase basate sulle componenti principali, Programma di analisi delle superfici non piane per l'analisi WDS automatizzata di campioni con irregolarità superficiali. Ciò è possibile grazie all'ampia corsa Z dello stage (7,5 mm). Avvertenze: Windows è un marchio registrato di Microsoft Corporation negli Stati Uniti e in altri Paesi.