sistema di test per semiconduttore
S540 Keithley Instruments

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sistema di test per semiconduttore sistema di test per semiconduttore - S540
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Caratteristiche

  • Specificazioni:

    per semiconduttore

Descrizione

Il Keithley S540 è un completamente automatizzato, livello del wafer
sistema di prova parametrico che può eseguire tutta l'alta tensione,
prove a corrente debole e e di capacità di bassa tensione, fino a 3kV
in una singola sonda atterri per massimizzare la produttività
e minimizzi il costo della proprietà. Il sistema sicuro
e senza cuciture integra Keithley leader del settore
strumentazione di misura con sia basso che ad alta tensione
matrici di commutazione, cablanti, adattatori della carta della sonda,
driver del perforatore e software della prova di KTE. Il risultato finale è
un sistema di prova parametrico personalizzabile di 12 - 48 perni quello
elimina la necessità di modificare la messa a punto di prova o
usi due sistemi di prova separati quando si muovono dal livello
la tensione alle prove di bassa tensione, permette a 2 completamente automatizzati
o 3 misure terminali di capacità del transistor e
consegna la prestazione di misura del livello sotto-PA.

Caratteristiche fondamentali
• Esegua automaticamente tutte le di prove parametriche livelle del wafer
su fino a 48 perni, compreso la ripartizione ad alta tensione,
capacità e misure di bassa tensione, in a
la singola sonda atterra senza cavi cambianti o
infrastruttura della carta della sonda
• Realizzi le misure di capacità del transistor
quali il Ciss, Coss e Crss fino a 3 chilovolt senza
riconfigurazione manuale dei perni della prova
• Raggiunga la prestazione a basso livello di misura
in una prova ad alta velocità, plurimandrina, completamente automatizzata
ambiente
• a sistema basato a Linux di KTE (ambiente di test di Keithley)
software per sviluppo facile della prova e l'esecuzione veloce
• Ideale per le completo o applicazioni semiautomatiche dentro
Integrazione trattata, monitoraggio del controllo dei processi,
e la produzione muore specie
• Abbassa il costo della proprietà minimizzando la prova
tempo, tempo di configurazione di prova ed ingombro a pavimento mentre raggiungendo
prestazione di misura del laboratorio-grado

Traduzione automatica  (visualizzare il testo originale in inglese)