Sistema di metrologia per wafer Proforma 300i
per semiconduttori

sistema di metrologia per wafer
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Caratteristiche

Tipo
per wafer, per semiconduttori

Descrizione

Alternativa economica ai sistemi di misurazione e ispezione dei wafer completamente automatizzati Il prodotto può fornire la misura dello spessore e dell'arco di tutti i materiali dei wafer, compresi silicio, arseniuro di gallio, fosfuro di indio e zaffiro o nastro Caratteristiche La porta USB anteriore consente una facile memorizzazione delle misurazioni e di altri dati su unità flash Circuito di capacitanza proprietario di MTI Instruments per un'eccezionale precisione e affidabilità Misurazioni senza contatto gamma di wafer di diametro 76-300 mm Anelli di misurazione del wafer opzionali Arresti del wafer per un centraggio esatto Interfaccia Ethernet Software di controllo remoto completo (compatibile con Windows) Wafer di calibrazione opzionali Informazioni sul sistema di metrologia manuale per semiconduttori Lo spessimetro per wafer Proforma 300i è un sistema di misura differenziale basato sulla capacità che esegue misure di spessore senza contatto di wafer semiconduttori e semi-isolanti. Utilizzando la tecnologia Push/Pull di MTI, Proforma 300i non richiede che i wafer abbiano una massa elettrica costante, ottenendo una precisione e una ripetibilità eccezionali per la maggior parte dei tipi di wafer. Il sistema Proforma 300i include un software operativo di controllo remoto completo e la capacità di interfaccia di rete Ethernet. *L'arseniuro di gallio richiede la riconfigurazione della sonda per materiali semi-isolanti oltre 10K-Ohm cm di resistenza di massa.

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.