Microscopio a forza atomica NaioAFM
di misuraper misurazione della rugosità di superficieeducativo

microscopio a forza atomica
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Caratteristiche

Tipo
a forza atomica
Applicazioni tecniche
di misura, per misurazione della rugosità di superficie, educativo, per ispezione di superficie
Configurazione
compatto, da banco, portatile
Altre caratteristiche
a videocamera digitale, ad alta risoluzione, di semplice installazione
Risoluzione spaziale

Min.: 14 µm

Max.: 70 µm

Descrizione

Il principale AFM per la nanoeducazione Compatto e robusto Facile da usare Rapporto qualità-prezzo reale Il NaioAFM è il microscopio a forza atomica ideale per la nanoeducazione e la ricerca di base su piccoli campioni. Questo sistema AFM all-in-one offre prestazioni solide e maneggevolezza, con un prezzo e un'impronta che si adatta a chiunque e in qualsiasi luogo.

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Cataloghi

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.