Microscopio a forza atomica Flex-Axiom
per misurazione della rugosità di superficieper ispezione di superficieper ricerca sui materiali

microscopio a forza atomica
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Caratteristiche

Tipo
a forza atomica
Applicazioni tecniche
per misurazione della rugosità di superficie, per ispezione di superficie, per ricerca sui materiali, biomedico, multiuso
Configurazione
da banco
Altre caratteristiche
modulare, per topografia, per analisi termica, per uso in aria o in liquido, ad altissima risoluzione
Risoluzione spaziale

Min.: 3 µm

Max.: 100 µm

Descrizione

Il microscopio a forza atomica più flessibile per la ricerca sui materiali La testina di scansione più flessibile disponibile Adatto a qualsiasi dimensione del campione Concetto modulare: configurate il vostro FlexAFM in modo che corrisponda esattamente alle vostre esigenze Per il successo degli studi di ricerca sui materiali, gli scienziati dipendono da strumenti professionali in grado di fornire prontamente le informazioni necessarie, indipendentemente dai compiti da svolgere. Grazie ai progressi delle tecnologie e dei progetti chiave, Nanosurf ha reso il Flex-Axiom uno degli AFM più versatili e flessibili di sempre, consentendo di gestire con facilità un'ampia varietà di applicazioni di ricerca sui materiali. In combinazione con il potente controller C3000, sono possibili complesse caratterizzazioni di materiali.

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Cataloghi

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.