Spettrometro a fluorescenza a raggi X in dispersione di energia (EDXRF) in-linea per l'industria fotovoltaica
ISO 3497, ASTM B568 and DIN 50987 Oxford Instruments Analytical

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X-Strata980 è una soluzione redditizia per il processo ed il controllo di qualità delle cellule fotovoltaiche di sottili pellicole. È un rendimento elevato, micro-punto, spettrometro dispersivo di fluorescenza dei raggi X di energia della banco-parte superiore per la determinazione di spessore di rivestimento e dell'analisi a più strati della composizione sulle piccole zone di analisi. Si conforma all'iso 3497 di metodi della prova, a ASTM B568 ed a BACCANO 50987.

Il sistema ha come la relativa fonte di eccitazione un field-proven, 100 watt, tubo di raggi X del micro-fuoco degli strumenti di Oxford e misura con un rivelatore ad alto rendimento e peltier-raffreddato del Si-PIN-diodo. Questa combinazione fornisce la precisione eccezionale ed i limiti di rilevazione bassi, anche ai brevi tempi di misura. I risultati di spessore e della composizione di rivestimento sono ottenuti nei secondi.

Non ci è preparazione del campione richiesta. È semplicemente una questione di collocazione del campione nel grande alloggiamento di analisi degli X-Strati, utilizza il laser del fuoco per realizzare la distanza focale corretta e scatta sopra "va" tasto per iniziare la misura.

Permette all'analisi veloce di spessore di strato ed alla composizione delle cellule e può fa parte di un processo decisionale venire a mancare/del passaggio, accertandosi che le parti prodotte rispondano alla specifica, quindi fornente l'efficienza richiesta della conversione di energia solare nell'elettricità.