Analizzatore di gas DF-745

di monitoraggiodi umiditàdi tracce

Il TDL DF-745 misura l'umidità per i controlli del gas UHP Grazie alla tecnologia TDL (Tunable Diode Laser), leader del settore, il DF-745 fornisce misure di umidità in tracce e ultra-tracce per i controlli dei gas elettronici ad altissima purezza (UHP) nei processi di produzione di LED/LCD. Misure flessibili di tracce e ultratracce con TDL Una soluzione senza compromessi Manutenzione semplice e riduzione dei costi correnti Il DF-745 fornisce misure di contaminanti di umidità in tracce e ultra-tracce per i processi di produzione di LED/LCD. In grado di monitorare diversi gas di fondo, offre prestazioni eccezionali e flessibilità operativa in un'unità compatta. Grazie a un design hardware/software intelligente e robusto, questo analizzatore può essere spostato facilmente da una porta all'altra, eliminando virtualmente i tempi di inattività spesso associati a queste applicazioni. Con un limite di rilevamento inferiore (LDL) di 1 parte per miliardo (ppb), il DF-745 offre misure di base ultra-affidabili e una rapida velocità di risposta. Una robusta cella di Herriott impedisce la perdita di riflettività dello specchio, mentre il contatto dell'umidità con i componenti ottici è ridotto al minimo, garantendo una misura accurata. La deriva zero prolunga gli intervalli di calibrazione, mentre la manutenzione continua è minima Misure flessibili di tracce e ultratracce TDL I moderni processi di produzione di LCD e LED richiedono una misura di qualità ultra-traccia per i contaminanti di umidità nei gas di grado elettronico ad alta purezza. In un'applicazione così specifica, gli utenti hanno bisogno di un'analisi in grado di fornire un'elevata precisione e limiti di rilevamento bassissimi in più gas di fondo.