Progettato per applicazioni di controllo qualità nei gas sfusi UHP, l'analizzatore compatto DF-760E è una soluzione unica per la doppia misurazione di umidità (H2O) e ossigeno (O2) in tracce e ultra-tracce.
Misure in traccia/ultra traccia TDL ad alta stabilità
Una soluzione senza compromessi
Manutenzione semplice e costi di gestione ridotti
Dotato di una soluzione integrata e compatta per il monitoraggio simultaneo dell'umidità e dell'ossigeno in tracce, il DF-760E è un analizzatore progettato per il monitoraggio dei gas sfusi UHP utilizzati nella produzione di schede a circuito integrato.
Combinando le proprietà leader del settore del sensore coulometrico non esauribile di Servomex e la robusta tecnologia del laser a diodi sintonizzabili (TDL) in un'unica unità compatta, il DF-760E misura livelli di contaminazione bassissimi di H2O e O2 all'interno di miscele di gas di fondo di azoto (N2), idrogeno (H2), elio (He), O2 e argon (Ar) (H2O solo in O2).
Con limiti di rilevamento inferiori (LDL) eccezionalmente bassi e leader del settore, pari a 100ppt (H2O) e 45ppt (O2), il DF-760E offre una rapida velocità di risposta, una stabilità insuperabile e l'immunità da danni da acidi in tracce, rendendolo ideale per il controllo della qualità e il rilevamento di perdite nelle applicazioni FAB dei semiconduttori.
Queste prestazioni di misura impareggiabili sono supportate da un design che richiede poca manutenzione, grazie alle tecnologie di rilevamento a deriva zero che non richiedono una calibrazione continua.
Quando si lavora nella produzione di schede di circuiti integrati, il controllo di qualità del gas UHP di grado elettronico è fondamentale.
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