Diffrattometro a raggi X ADX-2500

a singolo cristallo

L'ADX-2500 XRD (Diffrazione di raggi X) è stato progettato per essere applicato alla misurazione della microstruttura, ai test e alle indagini di ricerca approfondite. Grazie a diversi accessori e al corrispondente software di controllo e calcolo, l'ADX-2500 XRD è un sistema di diffrazione in grado di soddisfare le esigenze pratiche di molti settori. Il diffrattometro a raggi X ADX-2500 consente l'analisi della struttura di campioni a cristallo singolo, policristallini e amorfi. L'ADX-2500 X Ray Diffraction è in grado di eseguire le seguenti operazioni: analisi qualitativa e quantitativa delle fasi (RIR, calibrazione dello standard interno, calibrazione dello standard esterno, criterio additivo), indicizzazione del pattern, determinazione e affinamento della cella unitaria, determinazione delle dimensioni dei cristalliti e della deformazione, adattamento del profilo e affinamento della struttura, determinazione delle tensioni residue, analisi della struttura (l'ODF esprime la figura tridimensionale del polo), stima della cristallinità in base alle aree dei picchi, analisi dei film sottili e altro. Caratteristiche - La perfetta integrazione di hardware e software consente all'ADX-2500 X-ray Diffraction di eseguire diversi tipi di analisi per i ricercatori di vari settori; - L'elevata precisione della misurazione dell'angolo di diffrazione consente all'ADX-2500 X-ray Diffraction di ottenere dati più accurati; - La maggiore stabilità del sistema di controllo del generatore di raggi X garantisce un'eccellente precisione di misurazione; - Il design semplice ed efficace rende ADX-2500 XRD comodo da usare e facile da usare. Software Elaborazione generale dei dati di diffrazione: ricerca automatica dei picchi, ricerca manuale dei picchi, intensità integrale, separazione di Kα1, α2, rimozione dello sfondo, lisciatura e ingrandimento del modello, plot multipli,