Microscopio SEM VEGA

per analisida ricercaper ispezione

Il microscopio elettronico a scansione (SEM) di 4a generazione di TESCAN VEGA con sorgente di elettroni a filamento di tungsteno combina l'imaging SEM e l'analisi della composizione degli elementi vivi in un'unica finestra del software Essence™ di TESCAN. Questa combinazione semplifica significativamente l'acquisizione dei dati morfologici ed elementali dal campione, rendendo il VEGA SEM una soluzione analitica efficiente per l'ispezione di routine dei materiali nel controllo qualità, nell'analisi dei guasti e nei laboratori di ricerca. - Piattaforma analitica con TESCAN Essence™ EDS completamente integrato, che combina in modo efficiente l'imaging al SEM con l'analisi della composizione elementare in un'unica finestra del software Essence™. - Immagini ottimali e condizioni analitiche immediatamente disponibili grazie all'esclusivo design ottico senza aperture di TESCAN, alimentato da In-flight Beam Tracing™. - Navigazione al SEM senza sforzo e precisa sul campione con ingrandimenti fino a 2× senza la necessità di una telecamera di navigazione ottica aggiuntiva grazie all'esclusivo design Wide Field Optics™. - Modalità SingleVac™ come caratteristica standard per l'osservazione di campioni sensibili alla carica e al fascio. - Software Essence™ intuitivo e modulare, progettato per un funzionamento senza sforzo, indipendentemente dal livello di esperienza dell'utente. - La massima sicurezza dei rilevatori montati in camera quando lo stadio e il campione sono in movimento è garantita dal modello Essence™ 3D Collision. - Il tampone per il vuoto opzionale riduce significativamente il tempo di funzionamento della pompa rotativa a vuoto per offrire vantaggi sia ecologici che economici. - La piattaforma analitica modulare che può essere equipaggiata opzionalmente con la più ampia selezione di rivelatori completamente integrati (ad esempio CL, BSE raffreddato ad acqua o spettrometro RAMAN).