I requisiti di qualità ed efficienza imposti alla produzione in serie di piccole lenti in plastica o vetro, le finestre ottiche sono in continua crescita. L'uso della tecnologia di misura del fronte d'onda nella produzione di massa può produrre un grande potenziale di ottimizzazione.
I wafer WaveMaster® PRO 2 & PRO 2 Wafer hanno stabilito nuovi standard nel collaudo in serie di ottiche e wafer ottici. Con un tempo di misura tipico di 2 sec. per ottica e un cambio rapido del vassoio o del wafer, sono soddisfatti i prerequisiti per l'uso nella produzione di massa. Per quanto riguarda la tecnologia di misura, WaveMaster® PRO 2 e PRO 2 Wafer determinano con un sensore Shack-Hartmann il fronte d'onda da cui derivano i vari parametri. Viene quindi eseguito un confronto con i dati di progettazione per ogni obiettivo. Un ottimo pool di dati per ulteriori ottimizzazioni nella produzione.
Caratteristiche principali
Durata della misurazione: meno di 2 secondi per lente
Misurazione completamente automatica di grandi quantità di campioni (wafer o vassoi precaricati)
Criteri PASS e FAIL selezionabili dall'utente
Misura del fronte d'onda assoluto o relativo
Analisi completa del fronte d'onda (PV, RMS, Zernike, PSF, MTF, Strehl)
Disponibile in due configurazioni
Predisposizione per la misurazione di lenti sferiche e asferiche (lenti singole o wafer)
Impostazione per la misura di superfici piane (superficie singola o wafer)
Esportazione di tutti i risultati di misurazione per ogni singolo obiettivo
Opzione: Sistema di misura integrato per la misurazione dell'orientamento, dell'arco e dell'inclinazione complessiva dei wafer
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