Apparecchiatura per test di indentazione ZHN/SEM

Nanoindentatore per microscopio elettronico a scansione Applicazioni • - Test di durezza secondo ISO 14577 • - Test dinamici Carico di prova • - 0 - 0,2 N Applicazioni • - Ricerca & Sviluppo (SEM) Piccolo ma potente Il nanoindentatore ZHN/SEM per l'installazione in un microscopio elettronico a scansione (SEM) consente di eseguire studi micromeccanici osservando il provino con la massima risoluzione. È caratterizzato dal più ampio campo di misura attualmente disponibile, con una misura di corsa massima di 200 µm ed una forza massima di 200 mN, sensori di forza e di spostamento a bassissimo rumore in un ambiente a basse vibrazioni. La rigidità dello strumento è così elevata che le misure di durezza convenzionali possono essere eseguite senza difficoltà. Il sistema standard è stato concepito per l'installazione sul piano del microscopio SEM, ma può essere fissato anche a parete. Con questo sistema si possono utilizzare le opzioni esistenti di inclinazione e posizionamento del SEM. Il sistema è composto da: • - testa di misura con sensori e attuatore • - sistema con piano piezoelettrico per il posizionamento dei campioni in direzione XY e la rotazione opzionale intorno all'asse del penetratore • - Piano meccanico rigido a Z per lo spostamento della testa di misura verso il provino • - PC e controller • - software facile da usare, altamente flessibile • - una o due flange passanti (specifiche per SEM).