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... sulla struttura del percorso ottico autoprogettato e sui componenti optoelettronici di Olympus e Soleibo; viene utilizzato per l'imaging del dominio magnetico e la ricerca sulla dinamica dei materiali ...
Risoluzione spaziale: 0,02 µm
... Panoramica del prodotto
Il
microscopio a forza atomica (AFM wafer-level) è uno strumento di sonda a scansione ad alta risoluzione progettato per caratterizzare la morfologia superficiale tridimensionale e le proprietà multifunzionali ...
... da regolazioni di messa a fuoco. •Struttura in acciaio inossidabile ultra-resistente. •Disponibile in due varianti di Microscopio Brinell: 20x ingrandimento, scala 0-6mm, divisioni da 0,1mm. / 40x ingrandimento, scala 0-3mm, divisioni ...
... prodotto nell'applicazione industriale, colata, fusione, fusione, trattamento termico, ricerca della struttura metallografica dei materiali Uso Questo microscopio metallografico è utilizzato principalmente ...
Ingrandimento: 195 unit - 2.830 unit
... l'analisi quantitativa e qualitativa di fibre, filati e
materiali non tessuti. Integra acquisizione immagini, misurazioni, annotazioni e report statistici per prove di laboratorio e controllo
materiali in ingresso.
Equipaggiamento ...
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