Misuratore di spessore mediante spettroscopia - Tutti i produttori del settore industriale

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misuratore di spessore di vetrothicknessGAUGE C.C

per materiali fini di fogli secchi di film

misuratore di spessore di vetro

thicknessGAUGE C.C

Range di misura: 2 mm
Accuratezza: 4 µm
Larghezza di misurazione: 200 mm - 400 mm

... misurazione precisa dello spessore di nastri e lastre. Il sistema può essere utilizzato per la misurazione di una traccia fissa, ad esempio per la misurazione della linea centrale (spessore centrale), ...

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misuratore di spessore di strato d’olioNG1

portatile mediante spettroscopia

misuratore di spessore di strato d’olio

NG1

Il NG1 è stato dismesso e sostituito dal NG2; naturalmente, l’assistenza per il NG1 continuerà a essere fornita.

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misuratore di spessore di strato d’olioNG2

portatile mediante spettroscopia di controllo qualità

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NG2

... trasferite ad altri dispositivi della serie NG. Questo vale non solo per i dispositivi portatili ma anche per i sensori di spessore dello strato d’olio in linea NGO3. Il trasferimento della calibrazione può avvenire dal ...

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misuratore di spessore di strato d’olioNG2-Custom

portatile mediante spettroscopia con controllo tramite applicazione mobile

misuratore di spessore di strato d’olio

NG2-Custom

... necessario. Le nuove funzionalità del software facilitano questo processo. Documentazione tecnica: Metodo di misurazione: Spettroscopia a infrarossi Intervallo di misura: 0,05 - 1 g/m² Precisione di misura: 0,02 ...

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misuratore di spessore di rivestimentoSR710S

per metallo di film nastro

misuratore di spessore di rivestimento

SR710S

... foglio. - Misure ad alte prestazioni - con una velocità di misura di 7,5 millisecondi (fino a 10 volte più veloce di altri misuratori IR), l'SR710S fornisce prestazioni di misura ad alta velocità con precisione per ottenere ...

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misuratore di spessore fisso3 nm - 100 µm | F30 series

benchtop mediante spettroscopia

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misuratore di spessore di vetrothicknessGAUGE C.C

misuratore di spessore di strato d’olioNG1

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Misuratori di spessori mediante spettroscopia

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