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Lunghezza d'onda: 200 nm - 1.100 nm
Lunghezza: 177 mm
Larghezza: 127 mm
... loro 4096 pixel, questi spettrometri sono adatti ad applicazioni ad alta risoluzione come le misure di plasma e la LIBS (Laser-Induced Breakdown Spectroscopy). La posizione dominante dei rivelatori CCD ...
Lunghezza: 315 mm
Larghezza: 235, 445 mm
Altezza: 135 mm
... precise su un ampio intervallo? O di misure multiple eseguite nello stesso momento per il controllo del processo? I nostri spettrometri multicanale AvaSpec soddisfano ogni esigenza. Potete selezionare l'opzione giusta ...
... Identificazione avanzata degli elementi luminosi LIBS è più sensibile e più adatto per il rilevamento di elementi di luce, come alluminio (Al), magnesio (Mg) e berillio (Be). Tuttavia, l'analisi affidabile LIBS ...
Lunghezza d'onda: 190 nm - 1.600 nm
... ampio raggio Opzioni di aggiornamento delle fenditure intercambiabili per le ottiche HR La serie di spettrometri HR è costituita dai nostri spettrometri a più alta risoluzione nell'intervallo di lunghezze ...
StellarNet
Lunghezza d'onda: 200 nm - 1.100 nm
... un'analisi ad ampio raggio Le migliori risoluzioni disponibili oltre gli 800 nm La nuova serie di spettrometri HR-X Hi-Res è costituita dai nostri spettrometri a più alta risoluzione, con molti modelli ...
StellarNet
Lunghezza d'onda: 190 nm - 1.100 nm
... portatile a basso costo che può essere utilizzato per misurazioni qualitative in tempo reale di elementi in traccia Gli spettrometri compatti ad alta risoluzione sono integrati con un laser pulsato ad alta intensità e ...
StellarNet
Lunghezza d'onda: 185 nm - 1.100 nm
... Uno spettrometro a risoluzione estrema che è in grado di risolvere caratteristiche spettrali estremamente vicine Perfetto per applicazioni ad alta risoluzione Fessure e filtri ottici intercambiabili dall'utente Risoluzione ...
... Laser-OES offre molti vantaggi e permette di gestire facilmente applicazioni che non avreste mai pensato possibile sullo spettrometro a scintilla. Tutto questo con meno preparazione del campione, tempi di misurazione ...
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