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Spettrometro a fluorescenza a raggi X HELIUSper l'industria minerariaper miniereper dispositivi elettronici
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Caratteristiche
- Tipo
- a fluorescenza a raggi X
- Settore
- per l'industria metallurgica, per l'analisi , di misura, per analisi di metalli, per gioielleria, per controllo di qualità, per manipolazione di precisione, per fonderia, per l'industria automobilistica, per dispositivi elettronici, per ispezione, per analisi ambientale, per test di conformità, per miniere, per plastica, per l'industria elettronica, per identificazione di leghe, per analisi di metalli preziosi, per rivestimento, per il settore agricolo, per il riciclaggio, per smistamento metalli, per supervisione di processo, per l'industria mineraria, per applicazioni mobili
- Configurazione
- portatile
- Tipo di rilevatore
- SDD
- Altre caratteristiche
- USB, con touch screen
- Lunghezza
22 cm
(8,66 in)- Larghezza
9,1 cm
(3,58 in)- Altezza
27,6 cm
(10,87 in)
Descrizione
HELIUS è il primo della serie di spettrometri portatili XRF di ARUN. Utilizzando la tecnologia di analisi della fluorescenza a raggi X, questo strumento di medie dimensioni analizza prodotti di vari materiali in modo rapido, affidabile e non distruttivo. Con un peso di 1,51 kg, è il più leggero tra i dispositivi presenti sul mercato.
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Cataloghi
HELIUS (XRF) (Italian)
3 Pagine
Fiere
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.