Incluso nel nostro pacchetto per film sottili, il software AvaSoft-Thin-Film è un pacchetto autonomo per controllare il sistema ed eseguire misure su rivestimenti a film sottile.
Il software calcola lo spessore dello strato dallo spettro di interferenza della riflessione per strati otticamente trasparenti con parametri ottici noti. Nel software AvaSoft-Thin-Film sono implementati due metodi diversi per il calcolo dei film sottili: la trasformata rapida di Fourier (FFT) e l'algoritmo di ottimizzazione best-fit (match spectrum). Il metodo FFT determina la frequenza del modello di interferenza; è utilizzato soprattutto per gli strati spessi. L'ottimizzazione dello spettro di corrispondenza determina il miglior adattamento per vari calcoli di spessore. I parametri di adattamento sono regolabili per monitorare la qualità dell'adattamento e per accelerare l'elaborazione dei dati.
Il software include un ampio database delle costanti ottiche 'n' e 'k' di substrati e rivestimenti. Il database comprende substrati e rivestimenti utilizzati in importanti campi di applicazione, come i semiconduttori e i rivestimenti ottici.
Per AvaSoft-Thin-Film sono disponibili anche moduli aggiuntivi di controllo del processo e di esportazione in Excel.
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