Spettrometro XRF M6 JETSTREAM
da laboratorioad uso industrialedi misura

Spettrometro XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - da laboratorio / ad uso industriale / di misura
Spettrometro XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - da laboratorio / ad uso industriale / di misura
Spettrometro XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - da laboratorio / ad uso industriale / di misura - immagine - 2
Spettrometro XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - da laboratorio / ad uso industriale / di misura - immagine - 3
Spettrometro XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - da laboratorio / ad uso industriale / di misura - immagine - 4
Spettrometro XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - da laboratorio / ad uso industriale / di misura - immagine - 5
Spettrometro XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - da laboratorio / ad uso industriale / di misura - immagine - 6
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti

Vuoi acquistare direttamente?
Vai sul nostro Shop.

Caratteristiche

Tipo
XRF
Settore
da laboratorio, di misura, ad uso industriale
Configurazione
mobile
Tipo di rilevatore
SDD
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione

Descrizione

La micro-XRF su campioni di grandi dimensioni (chiamata anche macro-XRF o MA-XRF) è diventata un metodo decisivo per l'analisi di dipinti, campioni geologici, manufatti archeologici e componenti industriali. L'M6 JETSTREAM esegue queste analisi con la massima velocità e precisione. Grazie al suo interasse mobile e al telaio regolabile, M6 JETSTREAM può essere utilizzato in loco invece di trasportare il campione in laboratorio. Misura di campioni verticali o di superfici orizzontali Area scansionabile fino a 800 x 600 mm² analisi "al volo" per la massima velocità di mappatura Dimensione dello spot regolabile per adattarsi alla struttura del campione Tecnologia XFlash® SDD con area del rivelatore fino a 2 x 60 mm² Sistema di gestione dell'apertura (AMS) opzionale per ottenere la profondità di fuoco su superfici irregolari Ottenere informazioni spazialmente risolte sulla distribuzione elementare di quasi tutte le superfici Registrazione di dati su ampie aree in un'unica operazione Combinazione di immagini ottiche ad alta risoluzione con uno spettro completo per pixel in un set di dati HyperMap Elaborazione dei dati ed estrazione di spettri di oggetti, scansioni di linee e fasi chimiche dalle mappe Quantificare gli spettri utilizzando i metodi dei parametri fondamentali (FP) senza standard Riduzione dei costi e dei tempi evitando la logistica e garantendo la sicurezza degli oggetti di valore Dettagli nascosti nei pigmenti sbiaditi, l'"Omero" di Rembrandt Indagine sull'uso dello smalto nelle vernici di Rembrandt per sviluppare la profondità del colore e la consistenza dei suoi dipinti. Le mappe MA-XRF rivelano i dettagli sottili persi a causa della degradazione dei pigmenti.

---

VIDEO

Cataloghi

Nessun catalogo è disponibile per questo prodotto.

Vedi tutti i cataloghi di Bruker AXS

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

CIOE 2025
CIOE 2025

10-12 set 2025 Shenzhen (Cina)

  • Maggiori informazioni
    K 2025
    K 2025

    8-15 ott 2025 Düsseldorf (Germania) Hall Salle 11 - Stand A59

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.