Microscopio AFM Dimension FastScan
per analisida ricercadi misura

microscopio AFM
microscopio AFM
microscopio AFM
microscopio AFM
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
 

Caratteristiche

Tipo
AFM
Applicazioni tecniche
per analisi, da ricerca, di misura
Configurazione
da banco
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione, automatizzato, ad alta velocità, in tempo reale, per topografia, per uso in aria o in liquido

Descrizione

Il sistema di microscopio a forza atomica (AFM) Dimension FastScan® è stato specificamente progettato per eseguire scansioni veloci senza perdita di risoluzione, di controllo della forza, di complessità aggiuntiva o di costi operativi aggiuntivi. Con FastScan si ottengono immagini AFM immediate con l'alta risoluzione prevista per un AFM ad alte prestazioni. Sia che si esegua una scansione a >125Hz durante il rilevamento di un campione per trovare la regione di interesse, sia che si esegua una velocità di 1 secondo per fotogramma in aria o in un fluido, FastScan ridefinisce l'esperienza AFM. Senza compromessi prestazioni ad alta velocità Offre la massima risoluzione sempre e comunque, indipendentemente dalle dimensioni del campione. dinamica su scala nanometrica Fornisce la massima velocità e stabilità di scansione della punta per la visualizzazione diretta del comportamento dinamico in aria o in un fluido. Impostazione, acquisizione e analisi automatizzate di impostazione, acquisizione e analisi dei dati Rende il funzionamento del sistema sorprendentemente semplice, migliorando al contempo la produttività e consentendo di concentrarsi sulla ricerca. Punto di riferimento per l'alta velocità e l'alta risoluzione Dimension FastScan è il primo e unico sistema di scansione con punta ad alta velocità che raggiunge velocità di scansione di fotogrammi al secondo senza compromettere la risoluzione o le prestazioni del sistema, indipendentemente dalle dimensioni del campione. Nessun altro AFM ad alta velocità ha l'ampio accesso al campione del FastScan. Abbinato al PeakForce Tapping®, il sistema consente di misurare istantaneamente la forza con un ciclo di controllo lineare, permettendo una risoluzione dimensionale e meccanica dei difetti di punto, e non solo su cristalli duri e piatti. Produttività eccezionale Ogni aspetto del Dimension FastScan, dall'accesso aperto alla punta e al campione alle impostazioni software preconfigurate, è stato specificamente progettato per garantire un funzionamento senza problemi e sorprendentemente semplice.

---

VIDEO

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 giu 2024 Frankfurt am Main (Germania)

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.