Microscopio con sonda di scansione LEAP 5000 series

da ricerca3D

microscopio a sonda atomica 3D con prestazioni analitiche sub-nanometriche 3D ineguagliabili Il LEAP 5000 è il microscopio a sonda atomica all'avanguardia di CAMECA, che offre un'efficienza di rilevamento superiore su un'ampia gamma di metalli, semiconduttori e isolanti: oltre il 40% di atomi in più rilevati per nm3 analizzato. Il LEAP 5000 raccoglie informazioni su scala nanometrica da un set di dati su scala microscopica in poche ore e offre un'accuratezza compositiva, una precisione e limiti di rilevamento migliori, una maggiore produttività dei campioni insieme a un aumento della resa e della riproducibilità finale. L'efficienza di rilevamento ottimizzata offre una sensibilità senza pari Ampio campo visivo e uniformità di rilevamento - la massima risoluzione spaziale 3D Eccellenti capacità di rilevamento multi-hit per le più accurate misurazioni compositive Frequenza di ripetizione rapida e variabile per un'acquisizione dei dati ad altissima velocità Piattaforma robusta ed ergonomica per una maggiore facilità d'uso e una riduzione del time-to-knowledge Monitoraggio in tempo reale per garantire la massima qualità dei dati in ogni misurazione Gli algoritmi avanzati di controllo del laser migliorano in modo significativo la resa dei campioni La famiglia LEAP 5000 Il LEAP 5000 XS combina una nuova tecnologia di traiettoria di volo con prestazioni potenziate del rivelatore per offrire un campo visivo migliore e raggiungere un'efficienza di rivelazione senza precedenti, pari all'80%, la più alta di qualsiasi altra tecnica analitica di questo tipo! Inoltre, l'avanzato modulo di impulsi laser in grado di offrire velocità di ripetizione fino a 2 MHz rende il LEAP 5000 XS il massimo dell'efficienza e della produttività.