Microscopio elettronico a scansione ZEISS EVO

da laboratorioper analisi di materialeper controllo di qualità

In un ambiente industriale di qualità, analisi dei guasti o di ricerca, il microscopio elettronico a scansione (SEM) è la soluzione ideale per applicazioni di metallografia e analisi dei guasti, grazie alla sua capacità di fornire sia immagini ad alta risoluzione che chimica degli elementi ad alta risoluzione spaziale. Progettato specificamente per applicazioni di ispezione e analisi di routine, EVO può essere utilizzato da microscopi elettronici esperti e non esperti grazie all'interfaccia grafica utente dedicata e semplificata. Fornisce dati di alta qualità, specialmente per le parti non conduttive che non possono essere rivestite con uno strato conduttivo a causa di un obbligo di ispezione successiva. EVO può essere perfettamente integrato in un flusso di lavoro multimodale, grazie a funzioni come la riallocazione semiautomatica delle regioni di interesse e soluzioni di integrità dei dati - attraverso sistemi, laboratori o anche sedi. SmartPI - la soluzione di analisi delle particelle SEM automatica e conforme agli standard ZEISS che consente la classificazione delle particelle in base alla composizione elementare - viene implementata su EVO come soluzione chiavi in mano per la pulizia industriale. Con un'ampia scelta di dimensioni delle camere, sistemi a vuoto, tipi di emettitori di elettroni e opzioni analitiche, EVO può essere abbinato a qualsiasi esigenza di prezzo-prestazioni.