Obiettivo per microscopio con scansione di area FA 15/16A Series
per rilevamentoper identificazioneper rilevamento di circuiti a semiconduttori

obiettivo per microscopio con scansione di area
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Caratteristiche

Tipo
con scansione di area
Applicazioni tecniche
per rilevamento, per identificazione, per rilevamento di circuiti a semiconduttori, per ispezione di oggetti
Altre caratteristiche
a bassa distorsione
Focale

Max.: 50 mm
(1,97 in)

Min.: 6 mm
(0,24 in)

Descrizione

1.1 20MP Qualità d'immagine elevatissima Supporta telecamere a scansione area da 20MP Illuminazione relativa elevata, con grande apertura Distorsione <0,1% Gamma di messa a fuoco da 0,1 m all'infinito Compatibile con sensori da 1'' e 2/3'' APPLICAZIONE Parti elettroniche Identificazione dell'esistenza / Identificazione della classificazione Rilevamento del numero di microchip e marcatura dei difetti Difettoso/Spot Rilevare i difetti della fotocamera Cristalli liquidi, semiconduttori, altro Misura geometrica Rileva la piegatura dei conduttori dei circuiti integrati Parti elettroniche Connettori Rilevamento della planarità dei pin dei connettori

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Cataloghi

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.