Apparecchiatura di controllo per semiconduttori

L'ispezione dei dispositivi a semiconduttori rappresenta una fase cruciale nel processo di produzione microelettronica. Comporta un'ispezione altamente accurata alla ricerca di difetti in diverse fasi di produzione, la registrazione e la comunicazione dei risultati, nonché la generazione di informazioni relative al controllo qualità (QA) a cui è possibile accedere e su cui è possibile intervenire immediatamente al fine di migliorare la resa complessiva. CIMS offre soluzioni di ispezione automatizzata per wafer con circuiti stampati, nonché vari prodotti fan-out e fan-in sia per il WLP (wafer-level-packaging) che per il PLP (panel-level-packaging). I sistemi AOI di CIMS per la microelettronica aiutano i nostri clienti ad aumentare notevolmente la resa dei loro processi produttivi, oltre a migliorare la qualità del prodotto finale.