Apparecchiatura di controllo per semiconduttori

L'ispezione dei dispositivi a semiconduttore è una fase cruciale del processo di produzione della microelettronica. Comporta un'ispezione altamente accurata dei difetti e di più fasi di produzione, la registrazione e l'emissione dei risultati e la generazione di informazioni relative all'AQ a cui è possibile accedere e agire immediatamente per migliorare la resa complessiva. CIMS offre soluzioni di ispezione automatizzata per wafer sagomati e vari prodotti fan-out e fan-in sia per il WLP (wafer-leve-packaging) che per il PLP (panel-level-packaging). Gli AOI di CIMS per la microelettronica aiutano i nostri clienti ad aumentare drasticamente la resa del loro processo produttivo e a migliorare la qualità del prodotto finale. Metrologia e opzioni di ispezione aggiuntive Le opzioni metrologiche aggiuntive di CIMS sono progettate per migliorare ulteriormente le capacità di ispezione dei dispositivi a semiconduttore. Queste opzioni possono essere integrate con le apparecchiature CIMS, offrendo ai nostri clienti un nuovo livello di garanzia della qualità. Le opzioni aggiuntive CIMS includono esclusive capacità metrologiche 2D e 3D che consentono di eseguire misure avanzate durante il normale ciclo di ispezione. In questo modo si elimina la necessità di un sistema metrologico dedicato offline e si accorcia il ciclo di feedback QA.