Blaze è l'ultima tecnologia di rilevamento sviluppata da CIMS, che costituisce il cuore dell'ispezione dei semiconduttori e che è alla base delle nostre più recenti soluzioni di ispezione per i segmenti del packaging e della microelettronica.
Le funzionalità esclusive di Blaze™ consentono un'ispezione altamente affidabile di un'ampia gamma di prodotti microelettronici avanzati, la piena integrazione dei dati con altri processi e la compatibilità con vari protocolli avanzati di scambio dati comunemente utilizzati nel settore dei semiconduttori.
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