Piattaforma di test per semiconduttore M2 Flexible Edition

Breve descrizione
Un’unica piattaforma flessibile per KGD, dispositivi packaged e small modules. Test AC e DC ultra-rapidi fino a 8 siti, inclusi test di valanga, short circuit, DRB stress testing e controlli termici del die attach nel package. L’architettura basata su loadboard consente una rapida e semplice riconfigurazione verso differenti tipologie di package o verso sistemi pick and place, alimentazione gravity o leadframe handlers.

Dettaglio
Un’unica piattaforma per KGD, dispositivi packaged e small module. Test AC e DC ultra-rapidi fino a 8 siti; misura parametri statici, prestazioni di switching dinamico, qualità del die attach termico, qualità del gate e stress test quali valanga e short circuit, utilizzando generatori di test modulari ad alte prestazioni. L’architettura modulare e basata su loadboard rende il passaggio tra diversi handler (pick and place / gravity feed / leadframe strip) rapido e semplice.

Motivi

• Eccezionale Flessibilità: i pick and place handlers sono ideali in contesti con frequenti cambi di prodotto. Setup rapido per nuove famiglie di dispositivi, retooling veloce dell’handler per differenti formati di package, transizioni semplici tra test a temperatura ambiente e hot test. Idoneo per produzioni a basso volume e alto mix o per attività di engineering/NPI. Il design modulare di M2 consente riconfigurazione di test, topologie, combinazioni di generatori e condizioni di stress con minima interruzione operativa.
• Piattaforma scalabile per la crescita: M2 cresce con le esigenze produttive. È possibile integrare booster board per incrementare il test di corrente LV fino a 1.000 A. DS5 Quasar e DS6 Pulsar ampliano le capacità nel dynamic switching test.
• Risultati riproducibili: unica architettura di test attraverso più fasi produttive riduce problematiche di correlazione, semplifica setup, abbrevia i tempi di sviluppo e minimizza la formazione richiesta agli operatori. Progettata per dispositivi in SiC, GaN e silicio nelle fasi die (KGD), discreti packaged e small module.

Presentazione / Panoramica
I dispositivi di potenza di nuova generazione, in particolare wide bandgap (WBG), richiedono maggiori attività di test mentre vengono ottimizzati i parametri di processo e la resa produttiva. M2 Flexible Edition misura parametri statici, prestazioni di switching dinamico, qualità del die attach termico, qualità del gate e stress test quali valanga e short circuit, utilizzando generatori di test modulari ad alte prestazioni.

Caratteristiche / specificazioni tecniche

• Numero siti di test (M2): 2 DUT x 2 sites (AC + DC)
• Performance switching dinamico AC (M2): M2 DS5 Quasar — up to 2kA short circuit
• DC parametric test (M2): 3kV 200A (integrated)
• Gate oxide and quality (M2): gate resistance & capacitance
• UIS avalanche / body diode quality (M2): —
• Tipologie di test supportate: test DC ad alta tensione e alta corrente, test dinamici AC (short circuit, avalanche), DRB stress testing, controlli termici del die attach, test gate resistance & capacitance, short circuit testing, avalanche testing.
• Architettura: piattaforma modulare basata su loadboard per rapida riconfigurazione verso differenti package e handler (pick and place / gravity feed / leadframe).
• Espandibilità: possibilità di integrazione di booster board per incremento corrente fino a 1.000 A; supporto a generatori DS5 Quasar e DS6 Pulsar per estendere capacità di short-circuit e dynamic switching.
• Applicazioni target: KGD (die), dispositivi packaged, small module; dispositivi SiC, GaN e silicio; MOSFET, JFET, IGBT, transistor, SCR, dispositivi bipolari, diodi, TRIAC e dispositivi di potenza intelligenti.
• Operatività: progettata per operatività 24/7 in ambienti produttivi ad alto volume con elevata affidabilità e lunghi intervalli tra gli interventi di manutenzione.