Ultimamente, la domanda della prova di sforzo altamente accelerata è stata aumentare dovuto sviluppo di densità delle componenti elettriche ed elettroniche.
L'alloggiamento altamente accelerato della prova di sforzo soprattutto è stato sviluppato per effettuare di sbieco la prova che applica la tensione ed i segnali costanti. L'apparecchiatura di campione caratterizza due modi di controllo: [controllo insaturo] e [bagni il controllo saturato], mentre il M.-tipo alloggiamento offre ulteriormente il modo di a [controllo di temperatura secco ed umido della lampadina].
Il M.-tipo alloggiamento è conforme al campione IEC60068-2-66.
Un doppio modello della pila concede effettuare 2 prove differenti allo stesso tempo, realizzando l'ottimizzazione dello spazio ed il saving di tempo.
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