Rilevatore di difetti a trasduttori multipli OmniScan® X3 64

con metodo di focalizzazione totale (TFM)FTPportatile

Rilevatore Phased Array e TFM OmniScan™ X3 64 con funzionalità avanzate Potenza portatile Protette dalla robusta e portatile struttura dell'OmniScan X3, le potenti funzionalità di focalizzazione dell'OmniScan X3 64, supportate dalla maggiore capacità in termini di aperture di elementi, permettono sfruttare completamente le sonde phased array a 64 elementi e il TFM con aperture da 128 elementi. Utilizza le sue prestazioni ottimizzate per gestire le ispezioni complesse di materiali di elevato spessore o attenuazione, aumentando la tua capacità di sviluppare nuove procedure per una più ampia gamma di applicazioni. Rilevatore di difetti Phased Array OmniScan™ X3 con TFM innovativo Affidabilità visibile Il rilevatore di difetti OmniScan X3 è uno strumento phased array completo. Funzionalità avanzate come quella di imaging del Metodo a focalizzazione totale (TFM) e di visualizzazione avanzata, supportate da un'elevata qualità dell'immagine, permettono di completare la tua ispezione con una maggiore affidabilità. Conferma immediata della copertura del fascio TFM Lo strumento della Mappatura dell'influenza acustica (AIM) fornisce un modello visivo istantaneo della sensibilità in base alla propria modalità, configurazione e riflettore simulato. Lo strumento AIM elimina gli elementi di soggettività nel creare il proprio piano di scansione, visualizzando l'effetto di una serie di onde (modalità TFM), vedendo dove si ferma la sensibilità e regolando di conseguenza il piano di scansione.