Analizzatore di gas XRF-2000
per metallodi concentrazionedelle emissioni

analizzatore di gas
analizzatore di gas
analizzatore di gas
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
 

Caratteristiche

Oggetto della misurazione
di gas, per metallo
Misurando
di concentrazione, delle emissioni, di radiazioni
Configurazione
da integrare
Tecnologia
con fluorescenza a raggi X

Descrizione

Caratteristiche e vantaggi: ⊙ Analisi simultanea di 28 elementi di metallo pesante più regolari, altri scalabili ⊙ Alta sensibilità, limite di rilevamento inferiore fino a ng/m ⊙ Misurazioni veramente continue e non distruttive, non è necessario alcun pretrattamento ⊙ Nessun prodotto chimico, nessun rifiuto liquido, affidabile e meno manutenzione ⊙ 13 brevetti a carico del singolo analizzatore ⊙ Sicurezza radioattiva certificata Raggi X usati per espellere gli elettroni strettamente trattenuti dagli orbitali interni dell'atomo. La rimozione di un elettrone in questo modo rende instabile la struttura elettronica dell'atomo, e gli elettroni negli orbitali superiori "cadono" nell'orbitale inferiore per riempire il buco lasciato. Ognuna di queste transizioni produce un fotone fluorescente con una radiazione caratteristica pari alla differenza di energia dell'orbitale iniziale e finale. La radiazione fluorescente viene poi analizzata separando le lunghezze d'onda caratteristiche (qualitative) e rilevando l'intensità di ogni radiazione caratteristica (quantitativa).

---

Cataloghi

Nessun catalogo è disponibile per questo prodotto.

Vedi tutti i cataloghi di Focused Photonics Inc.

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 giu 2024 Frankfurt am Main (Germania) Hall 11.0 - Stand C41

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.