Sistema di misurazione ottico C10178-03E

di spessorea calibroper film

Il sistema di misurazione dello spessore Optical NanoGauge C10178 è un sistema di misurazione dello spessore del film senza contatto che utilizza l'interferometria spettrale. Lo spessore del film è misurato rapidamente con alta sensibilità e alta precisione attraverso l'interferometria spettrale. I nostri prodotti utilizzano come rivelatori uno spettrometro multicanale PMA, che permette di misurare i rendimenti quantici, la riflessione, la trasmissione/assorbimento e vari altri punti, misurando contemporaneamente lo spessore di vari filtri ottici e pellicole di rivestimento, e altro ancora. Caratteristiche - Alta velocità e alta precisione (gamma di spessore del film di misurazione (vetro): 150 nm～50 μm) - Misura in tempo reale - Misura precisa del film fluttuante - Analizzi le costanti ottiche (n, k) - Controllo esterno disponibile - Rendimento quantico, riflettanza, trasmittanza e assorbimento possono essere misurati con accessori specifici Specifiche Numero del tipo: C10178-03E Modelli di misura (caratteristiche) : supporta NIR Gamma di spessore del film misurabile (vetro): da 150 nm a 50 μm*1 Riproducibilità della misura (vetro): 0,05 nm*2 *3 Precisione della misura (vetro): ±0,4 %*3 *4 Sorgente luminosa: Sorgente luminosa alogena Lunghezza d'onda di misura: da 900 nm a 1650 nm Dimensione dello spot: Circa φ1 mm*3 Distanza di lavoro: 10 mm*3 Numero di strati misurabili: Max. 10 strati Analisi: Analisi FFT, analisi Fitting, analisi della costante ottica Tempo di misurazione: 19 ms/punto*5 Forma del connettore della fibra: Forma del manicotto φ12 Funzione di controllo esterno: RS-232C, PIPE, Ethernet Alimentazione elettrica: Da AC200 V a AC240 V, 50 Hz/60 Hz Consumo energetico: Circa 230 VA