• Misurazioni e calcolo dei parametri del materiale secondo le norme DIN EN ISO 14577 e ASTM E 2546
• Determinazione di diverse proprietà plastiche ed elastiche come la durezza di Vickers, il modulo di indentazione e di scorrimento
• Modalità di misurazione dinamica (analisi meccanica dinamica)
• Adatto per il test di materiali solidi e rivestimenti nell'intervallo dei nanometri, campo di forza di prova 0,005 - 500 mN;
• Il design modulare consente di adattarlo facilmente secondo le tue specifiche esigenze
• Punto zero determinato in meno di un minuto
• Lo stadio XY programmabile con precisione di posizionamento di 0,5 µm rende possibile la misura su piccole aree come i fili di collegamento
• È possibile misurare campioni di altezza fino a 13 cm
• Microscopio scientifico di alta qualità
• Termicamente stabile: misurazioni a temperature costanti per numerose ore
• Software WIN-HCU potente per funzionamento e valutazione intuitivi;
• Indentazioni: Vickers, Berkovich o sfera in carburo, e indentazioni su richiesta
• Misurazioni su aree di test estremamente piccole, ad es. pad di incollaggio nell'industria dei semiconduttori
• Analisi di superfici fissate a ioni
• Test dei nano strati con sensori
• Misurazioni su materiali biologici
• Analisi dinamico-meccanica di piccoli campioni
• Misurazione della durezza e dell'elasticità del PVD, rivestimenti CVD come DLC (carbonio tipo diamante), strati chimici in nichel
• Misurazioni automatizzate su campioni multipli
• Determinazione delle proprietà meccaniche dei componenti strutturali nella materialografia