Microscopio elettronico a scansione SU3800/3900 Family

per misurazione della rugosità di superficieper analisida ricerca

La famiglia SU3800/3900 VP-SEM punta sulla produttività. Questi strumenti automatizzano le attività ripetitive, consentendo di ottenere risultati riproducibili in breve tempo e con poco sforzo manuale. Sono disponibili due diverse camere di campionamento con ottiche a emissione di campo al tungsteno o Schottky. Entrambi i modelli SU3800 e SU3900 sono dotati di software, elettronica e piattaforma di rivelazione comuni. Caratteristiche del prodotto: - Rivelatori Hitachi ad alta efficienza: -- Rivelatore di elettroni secondari per alto vuoto -- Rivelatore di elettroni retrodiffusi a 5 segmenti a semiconduttore per alto e basso vuoto, selezione di diverse modalità di segnale come contrasto del materiale, topografia superficiale, 3D -- Rivelatore multifunzione opzionale "UVD": Elettroni secondari in basso vuoto, catodo segnale di luminescenza, trasmissione (STEM, in combinazione con uno speciale supporto per campioni) - Ottica elettronica moderna e senza campo, a scelta con emettitore di campo Schottky o con catodi a forcina di tungsteno robusti, economici e, grazie a un controllo intelligente, di lunga durata - Facile manipolazione anche di campioni non elettricamente conduttivi grazie all'efficace modalità operativa integrata a basso vuoto, che può essere attivata con un semplice clic del mouse, se necessario - Per una visione d'insieme perfetta: Le immagini di navigazione a colori delle piastre campione coprono l'intera area del campione osservabile al SEM - Funzionamento senza preoccupazioni: le collisioni tra lo stage e i componenti del SEM sono virtualmente eliminate grazie alla limitazione della corsa applicata automaticamente e con un range dinamico