Misuratore di spessore di rivestimento FT160 series

elettronicodi precisione

Dotato di ottiche policapillari per la focalizzazione dei raggi X e di un rilevatore di deriva al silicio, FT160 consente un'elevata precisione e un'elevata produttività nella misurazione dello spessore del rivestimento a livello di nano-ordine di grandezza dei componenti elettronici. Ottica policapillare di focalizzazione dei raggi X Consente di eseguire misure altamente precise irradiando raggi X primari ad alta luminanza in un'area di circa 30 μmφ. Rivelatore di deriva del silicio (SDD) come sistema di rivelazione Il rivelatore di deriva del silicio ad alta velocità di conteggio consente una misurazione altamente precisa. Funzione di assistente alla misurazione automatica La funzione di misura automatica precisa su più punti consente di ottenere un'elevata efficienza di misura. Facilità d'uso grazie all'interfaccia semplice e alla funzione di aiuto del software Le misurazioni di routine giornaliere possono essere eseguite facilmente utilizzando una ricetta registrata simile a un'applicazione. Design dello strumento attento alla sicurezza L'adozione di un alloggiamento chiuso riduce al minimo il rischio di perdita di raggi X. L'ampio design della porta migliora la visibilità del campione e l'operatività dello strumento.