Rilevatore silicon drift Vortex®-EM

di raggi XdigitaleCMOS

I rivelatori di raggi X a deriva di silicio Vortex-EM presentano aree attive comprese tra 30 mm2 e 80 mm2. I rivelatori Vortex-EM sono prodotti in silicio ad alta purezza utilizzando una tecnologia di produzione CMOS all'avanguardia. Sono caratterizzati da un'eccellente risoluzione energetica (<130 eV FWHM a Mn Kα è tipico) e da un'elevata capacità di conteggio. A 0,1 µs si ottiene un PT con una velocità di conteggio in uscita di 900 kcps. Una caratteristica unica di questi rivelatori è la capacità di elaborare elevate velocità di conteggio con una perdita molto ridotta nella risoluzione energetica e uno spostamento minimo del picco con la velocità di conteggio. - Spettroscopia di fluorescenza a raggi X (XRF) sia in massa che in microfluorescenza - Microanalisi per SEM e TEM - Applicazioni della radiazione di sincrotrone - Emissione di raggi X indotta da particelle (PIXE) - Mappatura rapida a raggi X Il Vortex-EM funziona a temperatura quasi ambiente ed è raffreddato da un raffreddatore termoelettrico (TEC) e può essere ciclato con la frequenza necessaria senza alcun degrado delle prestazioni del rivelatore. I tempi di raffreddamento sono in genere inferiori a 2 minuti. Il sistema di spettroscopia a raggi X Vortex-EM comprende un'unità di rivelazione e una scatola di controllo che include gli alimentatori per il rivelatore, il TEC e un processore di impulsi digitale opzionale con il software PI-SPEC. Il rivelatore completo contiene anche un preamplificatore sensibile alla carica e un sistema di stabilizzazione della temperatura, che elimina le preoccupazioni legate alle variazioni della temperatura ambiente.