Sistema di monitoraggio di temperatura E-LIT

di misuracon camera ad infrarossiad alta prestazione

Soluzione di prova elettronica / semiconduttori - E-LIT * Analisi termica di dispositivi elettronici e semiconduttori * Banco di prova modulare per la misura online del lock-in * Rilevamento affidabile delle anomalie termiche nell'intervallo mK e μK * Localizzazione spaziale dei difetti nei PCB multistrato e nei moduli multichip * Utilizzo di sistemi termografici con rivelatori raffreddati e non raffreddati * Software operativo IRBIS® 3 attivo con opzioni di analisi complete in condizioni di laboratorio E-LIT - Il sistema di collaudo automatizzato consente l'ispezione senza contatto del materiale semiconduttore durante il processo di produzione. Distribuzione di temperatura disomogenea, la perdita di potenza locale può essere misurata con la termografia Lock-in. Ciò si ottiene utilizzando i tempi di misura più brevi, combinati con una telecamera termografica ad alte prestazioni e una speciale procedura di blocco. L'alimentazione elettrica per questo processo viene cronometrata con un modulo di sincronizzazione e i guasti che producono differenze mK o addirittura μK vengono rilevati in modo affidabile. I difetti più piccoli, come shunt di punti e linee, ossidi, transistor e diodi sulla superficie di un PCB e nei circuiti integrati, possono essere rilevati e visualizzati nelle posizioni x e y. Inoltre, è possibile analizzare pacchetti di stampi impilati o moduli multi-chip in direzione z semplicemente cambiando la frequenza di blocco. Vantaggi del banco di prova modulare - Misurazioni online lock-in con la massima sensibilità - Analisi microscopia completa e dettagliata - Risoluzione geometrica fino a 1,3 μm per pixel con lenti per microscopio - Risoluzione termica nella gamma microkelvin - Analisi multistrato - Scansione automatica di campioni più grandi grazie alla meccanica di precisione