Il dispositivo Promis è un sistema EM multi-frequenza e multi-spazio a 3 componenti per lo scandaglio e il profiling del suolo. Questo sistema è dotato di un loop trasmettitore per produrre un campo magnetico primario che indurrà correnti parassite nei materiali conduttivi. Queste correnti parassite genereranno un campo magnetico secondario che sarà misurato con l'anello ricevitore. Questo sistema misura le componenti in fase e fuori fase del campo magnetico secondario.
La lunghezza tra i loop del ricevitore e del trasmettitore varia tra 20 m e 400 m per le applicazioni standard. Questo sistema permette di lavorare con 10 frequenze che vanno da 110 Hz a 56 kHz. La profondità di penetrazione dipende dalla spaziatura e dalla frequenza. Di solito è considerata dell'ordine della metà della spaziatura. Un profilo può essere eseguito spostando sia il trasmettitore che il ricevitore alla stazione successiva.
I sistemi tradizionali di slingramma HLEM misurano solo la componente verticale del campo magnetico (Hz). Essendo il rapporto campo magnetico secondario/primario legato alla conduttività del suolo, essi permettono di localizzare le strutture conduttive che intersecano un profilo. Le 3 componenti misurate dal sistema PROMIS permettono di dare un'informazione sulla direzione (strike) della struttura (perché il campo magnetico rimane perpendicolare alle direzioni delle correnti parassite).
Con il sistema Promis, la produttività è aumentata da un'elaborazione automatica (misurazione effettuata automaticamente per l'insieme delle frequenze, senza comunicazione necessaria tra i due operatori).
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