Microscopio TEM JEM-ARM300F2

da laboratorioa pavimentoa emissione di campo freddo

Un nuovo microscopio elettronico a risoluzione atomica è stato rilasciato! Il "GRAND ARM™2" è stato aggiornato. Questo nuovo "GRAND ARM™2" consente l'osservazione ad altissima risoluzione spaziale con un'analisi altamente sensibile su una vasta gamma di tensioni di accelerazione. L'obiettivo FHP2 di nuova concezione L'asta dell'obiettivo FHP è ottimizzata per l'osservazione ad altissima risoluzione spaziale. Pur mantenendo questa capacità, la forma dell'asta è stata ulteriormente ottimizzata per l'angolo solido dei raggi X e l'angolo di decollo degli SDD doppi di grandi dimensioni (158 mm2). Come risultato, l'efficienza effettiva di rilevamento dei raggi X dell'FHP2 è più del doppio più sensibile di quella dell'FHP. Può fornire una risoluzione sub-angstrom nelle mappe elementari EDS. Nuovo involucro La colonna TEM è coperta da un involucro di tipo box, che può ridurre l'effetto dei cambiamenti ambientali come la temperatura, il flusso d'aria, il rumore acustico e così via, e quindi migliora la stabilità del microscopio. Correttore ETA e JEOL COSMO correzione dell'aberrazione rapida e accurata JEOL COSMO™ utilizza solo 2 ronchigrammi acquisiti da qualsiasi area amorfa per misurare e correggere le aberrazioni. Pertanto, il sistema può fornire una correzione rapida e accurata delle aberrazioni senza campioni dedicati. Miglioramento della stabilità Il nuovo CFEG (Cold Field Emission electron Gun) ha adottato un SIP più piccolo con un volume di evacuazione più grande di prima per GRAND ARM™2. L'aumento del volume di evacuazione del SIP migliora il grado di vuoto vicino all'emettitore all'interno del CFEG, e migliora anche la stabilità delle correnti di emissione e della sonda. La miniaturizzazione del SIP può ridurre la massa totale del CFEG di ~100 kg.