Fresatrice CNC a 3 assi JIB-4000PLUS

universaleper l'otticacompatta

Il JIB-4000PLUS è un sistema di fresatura e imaging a fascio ionico focalizzato (sistema FIB a fascio singolo) dotato di una colonna ottica ionica ad alte prestazioni. Il fascio di ioni accelerati di Ga (gallio) viene focalizzato su un campione per consentire l'osservazione di immagini SIM della superficie del campione, la fresatura e la deposizione di materiali come il carbonio o il tungsteno. Il sistema consente anche di preparare un campione a film sottile per l'imaging TEM e un campione in sezione trasversale per osservare l'interno del campione. Inoltre, il JIB-4000PLUS può essere dotato di una funzione di osservazione 3D e di una funzione di preparazione automatica dei campioni TEM; in questo modo il sistema soddisfa diverse esigenze di preparazione dei campioni. Caratteristiche Colonna FIB ad alta potenza Il JIB-4000PLUS incorpora una colonna FIB ad alta potenza con una corrente massima del fascio ionico di 60 nA. Inoltre, il sistema può aumentare la corrente del fascio fino a 90 nA (opzionale) per ridurre il tempo di preparazione del campione e ampliare l'area di preparazione del campione. Il JIB-4000PLUS consente di preparare in breve tempo una sezione trasversale con un diametro superiore a 100 μm. FIB facile da usare Il JIB-4000PLUS offre un'eccellente operatività di una colonna FIB ad alta potenza. Il concetto di design del sistema è la facilità d'uso, con l'aspetto esterno e l'interfaccia grafica progettati per un funzionamento semplice del sistema anche per gli utenti meno esperti. La compattezza del sistema, la più piccola classe del settore, consente di ottenere un ingombro ridotto per una più ampia gamma di selezioni per il sito di installazione.