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Microscopio EDX PSEper ispezione di materialecorrelativo
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Caratteristiche
- Tipo
- EDX
- Applicazioni tecniche
- per ispezione di materiale
- Altre caratteristiche
- correlativo
Descrizione
Mikroscopia correlativa: Combinazione di dati ottici e SEM
SEM con EDX: JOMESA PSE
-Legge le informazioni sulle particelle dal database
-Analisi SEM-EDX rapida di particelle selezionate
-Opzionale: Scansione completa o scansione di tutte le particelle ottiche
-Memorizza i risultati nel database
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PRODUCT
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.
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