Pirometro ottico CellaWafer PA 38
digitale°C°F

Pirometro ottico - CellaWafer PA 38 - Keller Pyrometer Systems - digitale / °C / °F
Pirometro ottico - CellaWafer PA 38 - Keller Pyrometer Systems - digitale / °C / °F
Pirometro ottico - CellaWafer PA 38 - Keller Pyrometer Systems - digitale / °C / °F - immagine - 2
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Caratteristiche

Tecnologia
ottico
Tipo di display
digitale
Unità di misura
°C, °F
Comunicazione
USB
Configurazione
stazionario
Applicazioni
per metalli, per semiconduttori
Altre caratteristiche
in acciaio inossidabile, di precisione
Temperatura

Min.: 450 °C
(842 °F)

Max.: 1.800 °C
(3.272 °F)

Risposta spettrale

0,88 µm

Tempo di risposta

2 ms, 50 ms

Descrizione

Panoramica del prodotto:
Il CellaWafer PA 38 è un pirometro digitale per la misura senza contatto della temperatura di wafer e metalli nell'intervallo 450–1800 °C. La sua risposta spettrale a onde molto corte e a banda stretta lo rende ideale per processi su wafer di silicio (es. RTP) e per metalli come tungsteno e molibdeno. La progettazione riduce la sensibilità alle variazioni di emissività, garantendo letture più stabili in ambiente produttivo.

Caratteristiche principali:
  • Campo di misura 450–1800 °C
  • Ottiche intercambiabili focalizzabili per regolare con precisione la distanza di misura
  • Ottiche di precisione antiriflesso a banda larga
  • Gamma spettrale a onda corta e banda stretta (0,88 µm)
  • Ottimizzato per misure precise su wafer di silicio e metalli
  • Display LED a 4 cifre, leggibile da distanza
  • Uscita di prova corrente per funzioni diagnostiche
  • Interfacce standard: uscita analogica, USB e RS‑485


Proprietà selezionabili / configurazione tipica:
  • Campo di misura: 450 – 1800 °C
  • Distanze di messa a fuoco (esempi): 0,3 m – ∞ (a seconda dell'obiettivo)
  • Opzioni di puntamento: puntamento attraverso l'obiettivo / telecamera integrata / puntatore laser
  • Esempio versione: CellaWafer PA 38 AF 10


Contenuto della fornitura (tipico):
  • Pirometro CellaWafer PA 38
  • Cavo di collegamento VK 02/A (5 m)
  • Cavo video VK 02/F (5 m) per modelli con telecamera integrata
  • Cavo USB VK 11/D (1,8 m)
  • Software CellaView
  • Manuale breve


Note / strumenti disponibili sulla scheda prodotto:
  • Calcolatore del campo di misura (diametri del punto in funzione della distanza)
  • Calcolatore dell'emissività e funzioni per impostare l'emissività
  • Dimostrazione video della funzione telecamera


Specifiche tecniche (selezione):
  • Articolo n.: 1124957
  • PGB n.: 500
  • Principio di misura: one‑colour (monocromatico)
  • Campo di misura: 450 – 1800 °C
  • Gamma spettrale: 0,88 µm
  • Sensore: fotodiodo
  • Tempo di risposta t98: ≤ 50 ms (T > 650 °C); ≤ 2 ms (T > 850 °C)
  • Incertezza di misura: 0,3 % della lettura, min. 4 K
  • Ripetibilità: 1 K
  • Rapporto distanza/spot (D:S): 60 : 1
  • Forma del campo di misura: rotonda
  • Esempio obiettivo: PA 20.08 (es. F50 PZ 20.08 — fuoco 0,3 m – ∞)
  • Uscita analogica: 0(4) – 20 mA, lineare, commutabile, scalabile; R ≤ 500 Ω
  • Ingresso analogico: 0 – 10 V
  • Uscite di commutazione: 2 × open collector 24 V DC, ≤ 30 mA
  • Ingressi di commutazione: 2 × fino a 24 V
  • Interfacce: USB, RS‑485
  • Alimentazione: 24 V DC (+10 % / −20 %); assorbimento ≤ 175 mA
  • Uscita video (opzione telecamera): PAL composito
  • Display: LED rosso 4 cifre, altezza cifre 8 mm; display stato: 2 × LED; comandi: 3 tasti
  • Connessione: M12, 8 poli
  • Temperatura ambiente (esercizio): 0 – 65 °C; stoccaggio: −20 – +80 °C
  • Umidità ammessa: max. 95 % UR (senza condensa)
  • Scocca: acciaio inox V2A (1.4305); grado di protezione: IP65
  • Dimensioni: Ø 65 mm × 220 mm (max. 277 mm); peso: ca. 0,9 kg
  • Parametri regolabili (esempi): campo di misura, scala I/O analogica, filtro di smoothing, emissività/trasmittanza, compensazione radiazione ambientale riflessa, limiti di allarme, linearizzazione, comportamento LED, simulazione, unità °C/°F; modelli con telecamera: TBC, bilanciamento del bianco
  • Funzioni (esempi): segnale di sovratemperatura (uscita analogica > 20,5 mA se temperatura interna > 80 °C), simulazione per assistenza, ATD (rilevazione automatica per processi discontinui)
  • Software: CellaView

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

HärtereiPraxis 2026
HärtereiPraxis 2026

22-24 giu 2026 Kamp-Lintfort im Wellings Parkhotel (Germania)

Shenzhen International Semiconductor & IC Exhibition
Shenzhen International Semiconductor & IC Exhibition

9-11 set 2026 Shenzhen (Cina)

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.