I sensori di misurazione a interferenza 3D della serie WI-5000 acquisiscono un'immagine 3D di aree target fino a 10 x 10 mm (0,39″ × 0,39″) in soli 0,13 secondi. Il sensore registra simultaneamente 80.000 punti di dati di altezza su tutta la superficie per eseguire misurazioni ad alta precisione di altezza, complanarità e persino rugosità superficiale (Sa e Sz). Utilizzando l’interferometria a luce bianca per acquisire le immagini, il sensore è in grado di effettuare misurazioni coassiali della superficie, eliminando le zone morte che impediscono una misurazione accurata in scanalature e altre forme con bruschi cambiamenti di altezza. Il principio di misurazione consente misurazioni 3D accurate e ripetibili su quasi tutti i tipi di superficie, compresi i bersagli trasparenti o a specchio. Sebbene la sua velocità lo renda ideale per le misurazioni in linea, è disponibile anche un supporto regolabile che permette agli utenti di sfruttare le stesse misurazioni rapide e automatiche sia per le ispezioni in linea che fuori linea.
Misurazioni di rugosità senza contatto eseguite in linea
Presentiamo il sensore di misurazione interferometrica 3D della serie WI-5000 per la misurazione istantanea dell’altezza superficiale. Esegue misurazioni in linea sia della rugosità lineare che di quella superficiale.
• Rugosità superficiale (Sa/Sz)
• Rugosità lineare (Ra/Rz)
Misura dell’area, non del punto o della linea
Misura istantaneamente 80.000 punti su un’area di misura massima di 10 × 10 mm (0,39" × 0,39"). Sfruttando i principi dell’interferometria a luce bianca, la serie WI-5000 non risente del tipo di materiale, del colore o dei punti ciechi, consentendo misurazioni ad alta precisione a livello di micron.
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