Profilometro laser VK-X4000

ottico3Dconfocale

Panoramica
La serie VK-X4000 è un microscopio di profilometria ottica 3D che integra confocale laser, interferometria a luce bianca (WLI) e focus variation in un'unica piattaforma metrologica per misure non a contatto e ad alta precisione di superfici e topografie. Il sistema supporta routine multi-punto automatizzate e rilevamento multi-caratteristica per aumentare la produttività riducendo le impostazioni manuali.

Caratteristiche principali

• Tre principi di misura in un unico strumento: Confocale laser, WLI e Focus Variation per ampia copertura di materiali e geometrie.
• Misurazione multipunto automatizzata: definire coordinate target e ingrandimenti per misure in batch non presidiati.
• Misurazione automatica di più caratteristiche: identificazione delle feature target e applicazione automatica delle condizioni di misura per risultati coerenti.
• AI-Analyzer: valuta dozzine di parametri superficiali per evidenziare le metriche che distinguono meglio i campioni, semplificando l'analisi.
• Alta versatilità: adatto a metalli, film, plastiche, semiconduttori, componenti medicali e altri materiali.

Principi di misura e punti di forza

• Confocale laser: efficace per forme complesse e materiali vari, fornendo dati 3D localizzati su geometrie difficili.
• Interferometria a luce bianca (WLI): offre risoluzione verticale sub-nanometrica per dettagli superficiali molto fini e misure di spessore precise.
• Focus Variation: cattura texture fini su aree più ampie e integra gli altri metodi quando trasparenza o pendenza limitano le prestazioni.

Misurazione multi-punto / Automazione

• Configura più punti di misura selezionando gli obiettivi; il sistema gestisce automaticamente posizionamento e selezione dell'obiettivo.
• Esegui misurazioni in batch su più campioni e aree senza impostazioni manuali ripetute, riducendo i tempi ciclo e la variabilità operatore.

AI-Analyzer / Analisi della rugosità
L'AI-Analyzer confronta numerosi parametri di superficie (es. Ra, Rz e metriche ISO standard) per identificare quali parametri distinguono meglio i campioni, semplificando la scelta delle metriche di rugosità e accelerando l'interpretazione dei risultati.

Applicazioni e vantaggi

• Profilatura 3D delle superfici e analisi della rugosità per elettronica, lavorazioni di precisione, film e rivestimenti, dispositivi medicali, plastiche e altro.
• Consente ispezioni ad alto rendimento con routine automatizzate e ripetibili per controllo qualità e analisi comparative.
• Combina metodi di misura complementari per affrontare praticamente qualsiasi superficie, da film lisci a geometrie ruvide e complesse.

Specifiche tecniche

• Denominazione commerciale: VK-X4000 series
• Principi di misura: Confocale laser, Interferometria a luce bianca (WLI), Focus Variation
• Risoluzione verticale WLI: sub-nanometrica (per dettagli superficiali molto fini)
• Misurazione multipunto: selezione automatizzata delle coordinate e misurazione in batch su campioni
• AI-Analyzer: confronto automatizzato di molteplici parametri di superficie per rilevare differenze chiave
• Misurazione automatica multi-caratteristica: applicazione automatica delle condizioni di misura alle feature identificate
• Materiali idonei: metalli, film, plastiche, componenti semiconduttori, parti medicali, ecc.
• Casi d'uso principali: profilatura 3D della superficie, analisi della rugosità, valutazione dello spessore di film, analisi comparativa delle superfici, ispezione automatizzata ad alto rendimento