Microscopio 3D VK-X4000

otticoper analisidi metrologia

3 principi di misurazione in 1 sistema Misurare automaticamente più aree su più parti AI-Analyzer determina facilmente le principali differenze di superficie Il microscopio di profilazione ottica 3D della serie VK-X4000 combina i metodi di confocale laser, interferometria a luce bianca e variazione della messa a fuoco in un unico sistema metrologico, consentendo misurazioni altamente accurate e senza contatto su quasi tutti i materiali e le geometrie delle superfici. La nuova funzione di misurazione multipunto semplifica ulteriormente il processo di analisi automatizzando le misurazioni su più punti e campioni, eliminando la necessità di complesse impostazioni o programmazioni e offrendo al contempo maggiore usabilità, produttività e ripetibilità. Tre principi di misura in un unico sistema: Precisione 3D ineguagliabile per qualsiasi superficie, qualsiasi materiale, qualsiasi geometria Laser confocale Misura di qualsiasi materiale, di qualsiasi forma. Interferometria a luce bianca Scansione multipla per misure 3D facili e automatizzate Acquisizione accurata di dati di superficie 3D con risoluzione sub-nanometrica. Variazione della messa a fuoco Misurazione di dettagli di superficie su un'ampia area. Configurate facilmente la posizione, le coordinate e le impostazioni di ingrandimento facendo semplicemente clic sul punto da misurare. È possibile selezionare facilmente gli elementi di destinazione su un pezzo. Tutte le condizioni di misura vengono applicate automaticamente. Analisi automatica della rugosità I valori Ra di queste due superfici sono uguali, ma i campioni appaiono chiaramente diversi. Con l'AI-Analyzer, decine di parametri superficiali vengono confrontati per determinare immediatamente quali sono quelli che presentano le differenze più marcate. Ra e Rz sono due dei parametri di rugosità più comuni, ma ce ne sono molti altri.