Sensore di spostamento lineare SI-F series

senza contattolasercon uscita digitale

Misuratore di spostamento laser a microtesta a interferenza spettrale [Il migliore della sua categoria] Risoluzione: 1nm (0,00004 mil) [Dimensione della microtesta più piccola al mondo: ø2 mm (ø0,08") [Principio di misura: Metodo dell'interferenza spettrale Vi presentiamo la prima microtesta al mondo, con la più alta precisione di misura della sua categoria e un livello di prestazioni finora ritenuto impossibile. Questi sensori a microtesta possono essere utilizzati per misurare lo spessore e la deformazione di oggetti di alta precisione come i wafer di silicio. Altissima risoluzione 1nm Metodo di interferenza spettrale che consente una risoluzione di 1 nm. Variazioni della testa che ampliano la gamma di misure possibili La gamma comprende testine ultra-piccole, a lungo raggio e altre testine specializzate per soddisfare una varietà di applicazioni. Eliminazione delle cause degli errori di misura La testa di misura è costituita solo da fibre ottiche e lenti, senza parti elettroniche.