Indentatore per test di durezza NanoFlip

Il tester nanomeccanico universale NanoFlip è dotato di un movimento XYZ ad alta precisione per posizionare il campione per il test e di un meccanismo di ribaltamento per posizionare il campione per l'imaging. Il software InView è dotato di una suite di metodi di prova che coprono una serie di protocolli di prova e consente agli utenti di creare i propri metodi di prova. L'attuatore InForce 50 funziona ugualmente bene sia in condizioni di vuoto che in condizioni ambientali. Le immagini SEM o di altri microscopi possono essere registrate dal software InView e sincronizzate con i dati dei test meccanici. La rivoluzionaria tecnologia FIB-to-Test permette di inclinare il campione di 90°, consentendo una transizione senza soluzione di continuità dalla prova FIB a quella di indentazione senza dover rimuovere il campione. - Ampia gamma di metodi di test nanomeccanici pre-programmati per una maggiore facilità d'uso - Attuatore InForce 50 per la misurazione dello spostamento capacitivo e l'attuazione della forza elettromagnetica con punte intercambiabili - Elettronica di controllo ad alta velocità InQuest con velocità di acquisizione dati di 100kHz e costante di tempo di 20µs - Sistema di movimento XYZ per il puntamento del campione - Acquisizione video SEM per immagini SEM sincronizzate con i dati del test - Esclusivo sistema di calibrazione delle punte integrato nel software per una calibrazione rapida e accurata delle punte - Software di controllo e revisione dei dati InView con compatibilità Windows ®10 e sviluppatore di metodi per esperimenti progettati dall'utente Applicazioni - Misure di durezza e modulo (Oliver-Pharr) - Misura continua della rigidità - Mappe delle proprietà dei materiali ad alta velocità - Test di durezza ISO 14577 - Analisi meccanica nano-dinamica (DMA) - Test quantitativi di graffiatura e usura